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Detalhes Referência

Tipo
Artigos em Conferência

Tipo de Documento
Artigo Completo

Título
Aplicação da Difracção de Raios X ao Estudo da Cristalinidade de Filmes Finos

Participantes na publicação
M.O. Figueiredo (Author)
J.P. Correia (Author)
Dep. Química e Bioquímica
CQB
CQE
L.M. Abrantes (Author)

Data de Publicação
1987

Evento
Actas 3º Encontro SPM

Identificadores da Publicação

Organizadores
Sociedade Portuguesa de Materiais

Editora
Sociedade Portuguesa de Materiais

Volume
3

Número de Páginas
10
Página Inicial
37
Página Final
46


Exportar referência

APA
M.O. Figueiredo, J.P. Correia, L.M. Abrantes, (1987). Aplicação da Difracção de Raios X ao Estudo da Cristalinidade de Filmes Finos. Actas 3º Encontro SPM, 37-46

IEEE
M.O. Figueiredo, J.P. Correia, L.M. Abrantes, "Aplicação da Difracção de Raios X ao Estudo da Cristalinidade de Filmes Finos" in Actas 3º Encontro SPM, , 1987, pp. 37-46, doi:

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