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Detalhes Referência

Tipo
Artigos em Revista

Tipo de Documento
Artigo Completo

Título
Potential Modulation on Total Internal Reflection Ellipsometry

Participantes na publicação
Wei Liu (Author)
Yu Niu (Author)
A. S. Viana (Author)
Dep. Química e Bioquímica
CQB
Jorge P. Correia (Author)
Dep. Química e Bioquímica
CQB
CQE
Gang Jin (Author)

Data de Publicação
2016-02-29

Suporte
Analytical Chemistry

Identificadores da Publicação
ISSN - 0003-2700

Editora
American Chemical Society (ACS)

Volume
88
Fascículo
6

Página Inicial
3211
Página Final
3217

Identificadores do Documento
DOI - https://doi.org/10.1021/acs.analchem.5b04587
URL - http://dx.doi.org/10.1021/acs.analchem.5b04587

Identificadores de Qualidade
Web Of Science Q1 (2017) - 6.042 - CHEMISTRY, ANALYTICAL - SCIE
SCIMAGO Q1 (2017) - 2.362 - Analytical Chemistry


Exportar referência

APA
Wei Liu, Yu Niu, A. S. Viana, Jorge P. Correia, Gang Jin, (2016). Potential Modulation on Total Internal Reflection Ellipsometry. Analytical Chemistry, 88, 3211-3217. ISSN 0003-2700. eISSN . http://dx.doi.org/10.1021/acs.analchem.5b04587

IEEE
Wei Liu, Yu Niu, A. S. Viana, Jorge P. Correia, Gang Jin, "Potential Modulation on Total Internal Reflection Ellipsometry" in Analytical Chemistry, vol. 88, pp. 3211-3217, 2016. 10.1021/acs.analchem.5b04587

BIBTEX
@article{38818, author = {Wei Liu and Yu Niu and A. S. Viana and Jorge P. Correia and Gang Jin}, title = {Potential Modulation on Total Internal Reflection Ellipsometry}, journal = {Analytical Chemistry}, year = 2016, pages = {3211-3217}, volume = 88 }