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Cordeiro, Tiago Rafael Pereira, (2024). Desenvolvimento de um microscópio de força atómica com deteção em deflexão de feixe auxiliada por interferometria. http://hdl.handle.net/10451/64910 Rodrigues, Mário Manuel Silveira, Coelho, João Miguel Pinto,
IEEE
Cordeiro, Tiago Rafael Pereira, "Desenvolvimento de um microscópio de força atómica com deteção em deflexão de feixe auxiliada por interferometria", 2024.
BIBTEX
@MastersThesis{61576,
author = {Cordeiro, Tiago Rafael Pereira},
title = {Desenvolvimento de um microscópio de força atómica com deteção em deflexão de feixe auxiliada por interferometria},
school = {FACULDADE DE CIÊNCIAS DA UNIVERSIDADE DE LISBOA},
year = {2024},
OPTtype = {Documentos Académicos}
}