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Detalhes Referência

Tipo
Artigos em Conferência

Tipo de Documento
Artigo Completo

Título
Exploring Transformers for Multi-Label Classification of Java Vulnerabilities

Participantes na publicação
Cláudia Mamede (Author)
Eduard Pinconschi (Author)
Rui Abreu (Author)
José Campos (Author)
Dep. Informática
LASIGE

Data de Publicação
2022-12

Instituição
FACULDADE DE CIÊNCIAS DA UNIVERSIDADE DE LISBOA

Evento
2022 IEEE 22nd International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS)

Identificadores da Publicação

Local
Guangzhou, China

Editora
IEEE

Identificadores do Documento
DOI - https://doi.org/10.1109/qrs57517.2022.00015
URL - http://dx.doi.org/10.1109/qrs57517.2022.00015


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APA
Cláudia Mamede, Eduard Pinconschi, Rui Abreu, José Campos, (2022). Exploring Transformers for Multi-Label Classification of Java Vulnerabilities. 2022 IEEE 22nd International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS), -

IEEE
Cláudia Mamede, Eduard Pinconschi, Rui Abreu, José Campos, "Exploring Transformers for Multi-Label Classification of Java Vulnerabilities" in 2022 IEEE 22nd International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS), Guangzhou, China, 2022, pp. -, doi: 10.1109/qrs57517.2022.00015

BIBTEX
@InProceedings{59989, author = {Cláudia Mamede and Eduard Pinconschi and Rui Abreu and José Campos}, title = {Exploring Transformers for Multi-Label Classification of Java Vulnerabilities}, booktitle = {2022 IEEE 22nd International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS)}, year = 2022, pages = {-}, address = {Guangzhou, China}, publisher = {IEEE} }