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Detalhes Referência

Tipo
Artigos em Revista

Tipo de Documento
Artigo Completo

Título
Local detection of X-ray spectroscopies with an in-situ Atomic Force Microscope

Participantes na publicação
M S Rodrigues (Author)
Dep. Física
BioISI
O Dhez (Author)
S Le Denmat (Author)
J Chevrier (Author)
R Felici (Author)
F Comin (Author)

Data de Publicação
2008-12-30

Suporte
Journal of Instrumentation

Identificadores da Publicação
ISSN - 1748-0221

Editora
IOP Publishing

Volume
3
Fascículo
12

Identificadores do Documento
DOI - https://doi.org/10.1088/1748-0221/3/12/p12004
URL - http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/3/12/p12004


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APA
M S Rodrigues, O Dhez, S Le Denmat, J Chevrier, R Felici, F Comin, (2008). Local detection of X-ray spectroscopies with an in-situ Atomic Force Microscope. Journal of Instrumentation, 3, ISSN 1748-0221. eISSN . http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/3/12/p12004

IEEE
M S Rodrigues, O Dhez, S Le Denmat, J Chevrier, R Felici, F Comin, "Local detection of X-ray spectroscopies with an in-situ Atomic Force Microscope" in Journal of Instrumentation, vol. 3, 2008. 10.1088/1748-0221/3/12/p12004

BIBTEX
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