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Detalhes Referência

Tipo
Artigos em Conferência

Tipo de Documento
Artigo Completo

Título
Reliability of microwave photoconductivity lifetime measurements

Participantes na publicação
D. Pera (Author)
J.M. Serra (Author)
M.C. Brito (Author)
Dep. Engenharia Geográfica, Geofísica e Energia
IDL
J. Maia Alves (Author)
Dep. Engenharia Geográfica, Geofísica e Energia
IDL
A.M. Vallêra (Author)
Dep. Engenharia Geográfica, Geofísica e Energia
SESUL

Data de Publicação
2008

Evento
23rd European Photovoltaic Solar Energy Conference

Identificadores da Publicação

Local
Valência

Página Inicial
498
Página Final
500

Identificadores do Documento
DOI - https://doi.org/10.4229/23rdEUPVSEC2008-1CV.2.17


Exportar referência

APA
D. Pera, J.M. Serra, M.C. Brito, J. Maia Alves, A.M. Vallêra, (2008). Reliability of microwave photoconductivity lifetime measurements. 23rd European Photovoltaic Solar Energy Conference, 498-500

IEEE
D. Pera, J.M. Serra, M.C. Brito, J. Maia Alves, A.M. Vallêra, "Reliability of microwave photoconductivity lifetime measurements" in 23rd European Photovoltaic Solar Energy Conference, Valência, 2008, pp. 498-500, doi: 10.4229/23rdEUPVSEC2008-1CV.2.17

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