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F. Carvalho Rodrigues, João Coelho, Manuel Abreu, (2002). Aplicação da Interferometria de schlieren e da Espectroscopia de Deflexão Fototérmica à Medição da Temperatura Durante o Processamento por Laser. 13ª Conferência Nacional de Física, 487-489
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F. Carvalho Rodrigues, João Coelho, Manuel Abreu, "Aplicação da Interferometria de schlieren e da Espectroscopia de Deflexão Fototérmica à Medição da Temperatura Durante o Processamento por Laser" in 13ª Conferência Nacional de Física, Évora, 2002, pp. 487-489,
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