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Detalhes Referência

Tipo
Artigos em Conferência

Tipo de Documento
Resumo

Título
Apparatus for the Characterization of Flexible Position Sensitive Detectors

Participantes na publicação
David Castro Alves (Author)
Manuel A. Abreu (Author)
Dep. Física
LOLS
João M. P. Coelho (Author)
INSTITUTO NACIONAL DE ENGENHARIA, TECNOLOGIA E INOVAÇÃO

Data de Publicação
2005

Evento
2005 International Conference in Amorphous and Nanocrystals Semiconductors

Identificadores da Publicação

Página Inicial
184


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APA
David Castro Alves, Manuel A. Abreu, João M. P. Coelho, (2005). Apparatus for the Characterization of Flexible Position Sensitive Detectors. 2005 International Conference in Amorphous and Nanocrystals Semiconductors, 184-

IEEE
David Castro Alves, Manuel A. Abreu, João M. P. Coelho, "Apparatus for the Characterization of Flexible Position Sensitive Detectors" in 2005 International Conference in Amorphous and Nanocrystals Semiconductors, , 2005, pp. 184-, doi:

BIBTEX
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